Πεδία Έρευνας
- Επιστήμη Υλικών – Φυσική Στερεάς Κατάστασης
- Ηλεκτρονική Μικροσκοπία Διέλευσης
Ερευνητική Εξειδίκευση
- Δομικές, ηλεκτρονικές και μηχανικές ιδιότητες υλικών.
- Διερεύνηση σε ατομική κλίμακα της μικροδομής και της σύνθεσης νανοϋλικών, νανοκρυστάλλων, λεπτών υμενίων, συστημάτων νανοδομών/ετεροδομών χαμηλών διαστάσεων, συμπεριλαμβανομένων των διεπιφανειακών και εκτεταμένων ατελειών δομής χρησιμοποιώντας αναλυτικές και ποσοτικές τεχνικές Ηλεκτρονικής Μικροσκοπίας Διέλευσης σε συνδυασμό με ατομιστική μοντελοποίηση και η συσχέτιση τους με τις ηλεκτρονικές και τις φυσικές τους ιδιότητες.
Εξεταζόμενα Υλικά
- Λεπτά υμένια και πολυστρωματικές νανοδομές III-V σύνθετων ημιαγωγών
- 2D υλικά
- Τοπολογικοί μονωτές
- Πολυκρυσταλλικό πυρίτιο (Si) ηλιακών στοιχείων
- Πολυστρωματικές δομές Si υπό μηχανική τάση/Si/SiGe
- Μέταλλα κυβικής και εξαγωνικής συμμετρίας
- Mεταλλικά κράματα
- Λεπτά μεταλλικά υμένια
- Μαγνητικά πολυστρωματικά υμένια
- Άμορφα μεταλλικά γυαλιά
- Γυαλιά και υαλοκεραμικά ως προϊόντα υαλοποίησης και σταθεροποίησης βιομηχανικών αποβλήτων
