Η μέρα που το νέο μας ηλεκτρονικό μικροσκόπιο JEOL JEM F200 HRTEM / HRSTEM Cold FEG θα είναι έτοιμο να λειτουργήσει πλησιάζει!
Το νέο JEM-F200 “F2” που στεγάζεται στο Εργαστήριο Ηλεκτρονικής Μικροσκοπίας του τμήματος Φυσικής ΑΠΘ, είναι το μόνο προηγμένο αναλυτικό, υψηλής απόδοσης 200kV S/TEM μικροσκόπιο στην κατηγορία του που προσφέρει μία Cold Field πηγή ακτινοβολίας και διπλούς ανιχνευτές πυριτίου SDD (Silicon Drift Detector) υψηλής ευκρίνειας. Το «F2» χρησιμοποιεί τις νεότερες καινοτομίες της JEOL σε ένα εύχρηστο, εξαιρετικά σταθερό, με απεικόνιση υψηλής ανάλυσης TEM 200kV. Το F2 είναι ένα όργανο πολλαπλών χρήσεων με προηγμένες δυνατότητες που δεν βρίσκονται σε κανένα άλλο S-TEM μικροσκόπιο χωρίς να διαθέτει σύστημα διόρθωσης εκτροπής. Μπορείτε να δείτε τα βασικά χαρακτηριστικά και τις προδιαγραφές.
