Εξοπλισμός
Ηλεκτρονικό μικροσκόπιο διέλευσης-σάρωσης/διέλευσης υψηλής ανάλυσης JEOl JEM F200 CFEG TEM/STEM (200, 80KV), με διακριτική ικανότητα ΤΕΜ 0.19 nm και STEM 0.14 nm, εξοπλισμένο με:
Υλοποιήθηκε από την Ε.Υ.Δ.Ε.Π. ΠΕΡΙΦΕΡΕΙΑΣ ΚΕΝΤΡΙΚΗΣ ΜΑΚΕΔΟΝΙΑΣ- “Ενίσχυση της έρευνας, της τεχνολογικής ανάπτυξης και της καινοτομίας” (άξονας ΑΞ01) |
|
Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Διέλευσης Υψηλής Ανάλυσης JEOL 2011 (200KV), με διακριτική ικανότητα 0.194 nm, εξοπλισμένο με:
|
|
Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Διέλευσης Υψηλής Ανάλυσης JEOL 2000FX (200KV), με διακριτική ικανότητα 0.28 nm, εξοπλισμένο με:
|
|
Συμβατικό Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Διέλευσης JEOL JEM-1010 (40-100KV) με διακριτική ικανότητα 0.5 nm, εξοπλισμένο με:
|
|
Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Σάρωσης JEOL JSM-6390LV (0.5-30 KV) με διακριτική ικανότητα 10nm, εξοπλισμένο με:
|
Εξοπλισμός Προετοιμασίας Δειγμάτων
|
|
|
||