Εξοπλισμός

Εξοπλισμός

 

Ηλεκτρονικό μικροσκόπιο διέλευσης-σάρωσης/διέλευσης υψηλής ανάλυσης  JEOl JEM F200 CFEG TEM/STEM (200, 80KV), με διακριτική ικανότητα ΤΕΜ 0.19 nm και STEM 0.14 nm, εξοπλισμένο με:

  • Με πηγή ηλεκτρόνιων ψυχρής εκπομπής πεδίου
  • Σύστημα ανάλυσης EDS & Λογισμικό Oxford Instruments Aztec Energy (X-Max 65T με ανιχνευτή 65 mm2)
  • Ψηφιακή Κάμερα GATAN RIO 9 CMOS (Μοντέλο 1809)
Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Διέλευσης Υψηλής Ανάλυσης JEOL 2011 (200KV), με διακριτική ικανότητα 0.194 nm, εξοπλισμένο με:

  • Σύστημα κάμερας EMSIS XAROSA CMOS 20 megapixel & Λογισμικό RADIUS.
  • Διάταξη Μετάπτωσης Ηλεκτρονικής Δέσμης SPININGSTAR
  • Σύστημα ανάλυσης EDS & Λογισμικό Oxford Instruments Aztec Energy (X-Max 65T με ανιχνευτή 65 mm2)
Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Διέλευσης Υψηλής Ανάλυσης JEOL 2000FX (200KV), με διακριτική ικανότητα 0.28 nm, εξοπλισμένο με:

  • Σύστημα CCD κάμερας KeenView.
Συμβατικό Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Διέλευσης JEOL JEM-1010 (40-100KV) με διακριτική ικανότητα 0.5 nm, εξοπλισμένο με:

  • Σύστημα κάμερας Gatan compact tv camera (Μοντέλο 696)
Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Σάρωσης JEOL JSM-6390LV (0.5-30 KV) με διακριτική ικανότητα 10nm, εξοπλισμένο με:

  • Σύστημα ανάλυσης EDS και Λογισμικό Oxford INCA EDS

 

 

Εξοπλισμός Προετοιμασίας Δειγμάτων

Διάταξη τελικής λείανσης ακριβείας με δέσμη ιόντων Ar+ Gatan (Model 691)

Leica Ultracut UCT Υπερμικροτόμος

Leica Σύστημα Κοπής EM TRIM2

Leica Κατασκευαστής Λεπίδων Ύαλου EM KMR3

SBT Τροχός Διαμαντιού Χαμηλής Ταχύτητας (Model 650)

SBT Περιστρεφόμενη τράπεζα μηχανικής λείανσης υψηλής ροπής στρέψης για μικρομετρικό τρίποδα

SBT Διάταξη εκβάθυνσης μηχανικά λειασμένων δειγμάτων (Model 515)

Συσκευή Καθαρισμού Υπερήχων

 

Διάταξη Κοπής Ακριβείας Imptech pc 10

 

Buehler Isomet 2000 Τροχός Ακριβείας

 

Περιστροφικός Δίσκος Κοπής Heidolph

Κλίβανος Sybron Thermolyne 1400