Εξοπλισμός

Ηλεκτρονικό μικροσκόπιο διέλευσης-σάρωσης/διέλευσης υψηλής ανάλυσης JEOl JEM F200 CFEG TEM/STEM (200, 80KV), με διακριτική ικανότητα ΤΕΜ 0.19 nm και STEM 0.14 nm, εξοπλισμένο με: Με πηγή ηλεκτρόνιων ψυχρής εκπομπής πεδίου Σύστημα ανάλυσης EDS & Λογισμικό Oxford Instruments Aztec Energy (X-Max 65T με ανιχνευτή 65 mm²) Ψηφιακή Κάμερα GATAN RIO 9 CMOS (Μοντέλο 1809)
Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Διέλευσης Υψηλής Ανάλυσης JEOL 2011 (200KV), με διακριτική ικανότητα 0.194 nm, εξοπλισμένο με: Σύστημα κάμερας EMSIS XAROSA CMOS 20 megapixel & Λογισμικό RADIUS. Διάταξη Μετάπτωσης Ηλεκτρονικής Δέσμης SPININGSTAR Σύστημα ανάλυσης EDS & Λογισμικό Oxford Instruments Aztec Energy (X-Max 65T με ανιχνευτή 65 mm²)
Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Διέλευσης Υψηλής Ανάλυσης JEOL 2000FX (200KV), με διακριτική ικανότητα 0.28 nm, εξοπλισμένο με: Σύστημα CCD κάμερας KeenView.
Συμβατικό Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Διέλευσης JEOL JEM-1010 (40-100KV) με διακριτική ικανότητα 0.5 nm, εξοπλισμένο με: Σύστημα κάμερας Gatan compact tv camera (Μοντέλο 696)
Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Σάρωσης JEOL JSM-6390LV (0.5-30 KV) με διακριτική ικανότητα 10nm, εξοπλισμένο με: Σύστημα ανάλυσης EDS και Λογισμικό Oxford INCA EDS

Εξοπλισμός Προετοιμασίας Δειγμάτων

Διάταξη τελικής λείανσης ακριβείας με δέσμη ιόντων Ar+ Gatan (Model 691)	Leica Ultracut UCT Υπερμικροτόμος	Leica Σύστημα Κοπής EM TRIM2	Leica Κατασκευαστής Λεπίδων Ύαλου EM KMR3	SBT Τροχός Διαμαντιού Χαμηλής Ταχύτητας (Model 650)
SBT Περιστρεφόμενη τράπεζα μηχανικής λείανσης υψηλής ροπής στρέψης για μικρομετρικό τρίποδα	SBT Διάταξη εκβάθυνσης μηχανικά λειασμένων δειγμάτων (Model 515)	Συσκευή Καθαρισμού Υπερήχων	Διάταξη Κοπής Ακριβείας Imptech pc 10	Buehler Isomet 2000 Τροχός Ακριβείας
Περιστροφικός Δίσκος Κοπής Heidolph	Κλίβανος Sybron Thermolyne 1400