Εξοπλισμός
Ηλεκτρονικό μικροσκόπιο διέλευσης-σάρωσης/διέλευσης υψηλής ανάλυσης JEOl JEM F200 CFEG TEM/STEM (200, 80KV), με διακριτική ικανότητα ΤΕΜ 0.19 nm και STEM 0.14 nm, εξοπλισμένο με:
|
![]() |
Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Διέλευσης Υψηλής Ανάλυσης JEOL 2011 (200KV), με διακριτική ικανότητα 0.194 nm, εξοπλισμένο με:
|
![]() |
Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Διέλευσης Υψηλής Ανάλυσης JEOL 2000FX (200KV), με διακριτική ικανότητα 0.28 nm, εξοπλισμένο με:
|
![]() |
Συμβατικό Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Διέλευσης JEOL JEM-1010 (40-100KV) με διακριτική ικανότητα 0.5 nm, εξοπλισμένο με:
|
![]() |
Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Σάρωσης JEOL JSM-6390LV (0.5-30 KV) με διακριτική ικανότητα 10nm, εξοπλισμένο με:
|
![]() |
Εξοπλισμός Προετοιμασίας Δειγμάτων
![]() Διάταξη τελικής λείανσης ακριβείας με δέσμη ιόντων Ar+ Gatan (Model 691) |
![]() Leica Ultracut UCT Υπερμικροτόμος |
![]() Leica Σύστημα Κοπής EM TRIM2 |
![]() Leica Κατασκευαστής Λεπίδων Ύαλου EM KMR3 |
![]() SBT Τροχός Διαμαντιού Χαμηλής Ταχύτητας (Model 650) |
![]() SBT Περιστρεφόμενη τράπεζα μηχανικής λείανσης υψηλής ροπής στρέψης για μικρομετρικό τρίποδα |
![]() SBT Διάταξη εκβάθυνσης μηχανικά λειασμένων δειγμάτων (Model 515) |
![]() Συσκευή Καθαρισμού Υπερήχων
|
![]() Διάταξη Κοπής Ακριβείας Imptech pc 10
|
![]() Buehler Isomet 2000 Τροχός Ακριβείας
|
![]() Περιστροφικός Δίσκος Κοπής Heidolph |
![]() Κλίβανος Sybron Thermolyne 1400 |