Έρευνα

Πεδία Έρευνας

  • Επιστήμη Υλικών – Φυσική Στερεάς Κατάστασης
  • Ηλεκτρονική Μικροσκοπία Διέλευσης

 

Ερευνητική Εξειδίκευση

  • Δομικές, ηλεκτρονικές και μηχανικές ιδιότητες υλικών.
  • Διερεύνηση σε ατομική κλίμακα της μικροδομής και της σύνθεσης νανοϋλικών, νανοκρυστάλλων, λεπτών υμενίων, συστημάτων νανοδομών/ετεροδομών χαμηλών διαστάσεων, συμπεριλαμβανομένων των διεπιφανειακών και εκτεταμένων ατελειών δομής χρησιμοποιώντας αναλυτικές και ποσοτικές τεχνικές Ηλεκτρονικής Μικροσκοπίας Διέλευσης σε συνδυασμό με ατομιστική μοντελοποίηση και η συσχέτιση τους με τις ηλεκτρονικές και τις φυσικές τους ιδιότητες.

 

Εξεταζόμενα Υλικά

  • Λεπτά υμένια και πολυστρωματικές νανοδομές III-V σύνθετων ημιαγωγών
  • 2D υλικά
  • Τοπολογικοί μονωτές
  • Πολυκρυσταλλικό πυρίτιο (Si) ηλιακών στοιχείων
  • Πολυστρωματικές δομές Si υπό μηχανική τάση/Si/SiGe
  • Μέταλλα κυβικής και εξαγωνικής συμμετρίας
  • Mεταλλικά κράματα
  • Λεπτά μεταλλικά υμένια
  • Μαγνητικά πολυστρωματικά υμένια
  • Άμορφα μεταλλικά γυαλιά
  • Γυαλιά και υαλοκεραμικά ως προϊόντα υαλοποίησης και σταθεροποίησης βιομηχανικών αποβλήτων